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新型奈米微粒採樣器現場應用探討(一)─100年度研究計畫IOSH100-H323

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新型奈米微粒採樣器現場應用探討(一)─100年度研究計畫IOSH100-H323


簡介

計畫目的為推廣「奈米技術實驗室奈米物質暴露控制手冊」，協助作業場所進行奈米微粒暴露評估，及引進國際發展中或已發展之小型化奈米微粒採樣器，提昇國內奈米微粒暴露評估技術。今年為2年計畫第1年，已完成宣導試行「奈米技術實驗室奈米物質暴露控制手冊」，及執行表格填寫說明。於20家事業單位或實驗室宣導試行時，發現工廠主管、安衛人員與勞工仍相當缺乏奈米微粒危害、暴露與控制之相關知識。本計畫也已針對6家事業單位(實驗室)完成奈米微粒暴露評估規劃、並應用現有儀器，依據過去研究建議之評估模式，協助完成工作環境區域監測工作，結果發現奈米鍍膜實驗室、及奈米濕式研磨工廠應無嚴重之奈米微粒逸散問題，唯鋼材電銲作業廠、拋光作業廠、點銲作業廠、銑床作業廠則有高濃度之奈米微粒產生，也確認過去建議之評估策略可行：亦即實施環境區域監測工作時，至少可利用手提式CPC量測奈米物質微粒濃度，當發現生產或處理時微粒濃度高於背景情形，即應辨識奈米物質來源，唯若超過背景濃度一倍，就應該視為有奈米物質逸散，並進一步再比較奈米物質生產或處理時的微粒濃度，以確認奈米物質的污染來源；最後可使用個人奈米微粒採樣器，以便於化學分析，及量測奈米物質的粒徑分布，以便進一步推估呼吸道不同區位奈米微粒沉積。關於奈米微粒的監測與暴露評估方面的技術與設備，在國際間仍處於研究發展的階段，計畫引進最新之MEAD、個人奈米微粒分徑器(PeUPS)、可攜式奈米微粒分徑器(PoUPS)及個人奈米微粒採樣器(PENS)等儀器，並實際應用PENS及MEAD於作業環境測定奈米微粒質量濃度，測定結果顯示MEAD確實可應用於量測個人奈米微粒暴露的粒徑分布、個數及表面積濃度，PENS可進一步應用於個人奈米微粒暴露評估之化學分析。

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